Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology - Seizo Morita - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642014949 - 2009. gada 1. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology 2009 edition

Cena
€ 262,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Seizo Morita izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;


419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2009. gada 1. oktobris
ISBN13 9783642014949
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Žanrs Aspects (Academic) > Science / Technology Aspects
Lapas 401
Izmēri 155 × 235 × 25 mm   ·   703 g
Valoda Franču  
Redaktors Giessibl, Franz J.
Redaktors Morita, Seizo
Redaktors Wiesendanger, Roland

Vairāk no Seizo Morita

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja