Pastāsti draugiem par šo preci:
Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen Frank Sill German edition
Cena
€ 48,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 24. nov. - . gada 2. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Frank Sill izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Untersuchung und Reduzierung des Leckstroms integrierter Schaltungen in Nanometer-Technologien bei konstanten Performanceanforderungen
Frank Sill
232 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2009. gada 12. janvāris |
| ISBN13 | 9783640227419 |
| Izdevēji | Grin Verlag |
| Lapas | 232 |
| Izmēri | 148 × 210 × 13 mm · 337 g |
| Valoda | Vācu |
Skatīt visus Frank Sill