Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences - Ludwig Reimer - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540639763 - 1998. gada 17. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences 2nd completely rev. and updated ed. 1998 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ludwig Reimer izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.


529 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1998. gada 17. septembris
ISBN13 9783540639763
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 529
Izmēri 242 × 166 × 34 mm   ·   975 g
Valoda Vācu  
Ieguldītājs Peter W Hawkes

Vairāk no Ludwig Reimer

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja