Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - Roland Wiesendanger - Grāmatas - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540431176 - 2002. gada 24. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology 2002 edition

Cena
€ 232,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 7. - 21. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Roland Wiesendanger izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);


458 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2002. gada 24. jūlijs
ISBN13 9783540431176
Izdevēji Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Lapas 440
Izmēri 164 × 241 × 35 mm   ·   766 g
Valoda Vācu  
Redaktors Meyer, E.
Redaktors Morita, S.
Redaktors Wiesendanger, Roland

Vairāk no Roland Wiesendanger

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja