Pastāsti draugiem par šo preci:
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology Donna R. Kemp 1st edition
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology
Donna R. Kemp
Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.
338 pages, 7 black & white tables, biography
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2006. gada 18. oktobris |
| ISBN13 | 9783540373186 |
| Izdevēji | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Lapas | 338 |
| Izmēri | 155 × 235 × 19 mm · 648 g |
| Valoda | Angļu |
| Redaktors | Bhushan, Bharat |
| Redaktors | Fuchs, Harald |
| Redaktors | Kawata, Satoshi |
Vairāk no Donna R. Kemp
Rādīt visuVairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Donna R. Kemp ( piem., Hardcover Book )