Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Selahattin Sayil - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319888194 - 2018. gada 4. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Softcover reprint of the original 1st ed. 2018 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Selahattin Sayil izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.


93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2018. gada 4. septembris
ISBN13 9783319888194
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 93
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   184 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja