Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design - Jens Lienig - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319735573 - 2018. gada 7. marts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design 2018 edition


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jens Lienig izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.


159 pages, 95 Illustrations, color; 4 Illustrations, black and white; XIII, 159 p. 99 illus., 95 ill

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2018. gada 7. marts
ISBN13 9783319735573
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 159
Izmēri 241 × 166 × 12 mm   ·   434 g
Valoda Vācu  

Vairāk no Jens Lienig

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja