Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Grāmatas - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - 2017. gada 4. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Sayil
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 10. - 20. jūl.

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.

93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Mediji Grāmatas     Book
Izlaists 2017. gada 4. decembris
ISBN13 9783319696720
Izdevēji Springer International Publishing AG
Lapas 93
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Valoda Vācu  

Mere med samme udgiver

Skatīt visus Sayil ( piem., Book )