Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Grāmatas - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 2022. gada 20. aprīlis
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Sebastian Huhn
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sebastian Huhn izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.

164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2022. gada 20. aprīlis
ISBN13 9783030692117
Izdevēji Springer Nature Switzerland AG
Lapas 164
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Valoda Vācu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Sebastian Huhn ( piem., Hardcover Book , Paperback Book un Book )