X-ray Scattering from Semiconductors (2nd Edition) - Fewster, Paul F (PANalytical Research Centre, UK) - Grāmatas - Imperial College Press - 9781860943607 - 2003. gada 8. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

X-ray Scattering from Semiconductors (2nd Edition) 2 Revised edition

Cena
€ 158,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 2. - 16. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Fewster, Paul F (PANalytical Research Centre, UK) izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.


316 pages, Illustrations

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2003. gada 8. jūlijs
ISBN13 9781860943607
Izdevēji Imperial College Press
Lapas 316
Izmēri 154 × 230 × 24 mm   ·   666 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Fewster, Paul F (PANalytical Research Centre, UK)

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja