Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties - Pierre-Richard Dahoo - Grāmatas - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306401 - 2021. gada 12. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Cena
€ 166,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 28. sept. - . gada 12. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Pierre-Richard Dahoo izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

256 pages

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2021. gada 12. janvāris
ISBN13 9781786306401
Izdevēji ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Lapas 256
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   526 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Pierre-Richard Dahoo

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Pierre-Richard Dahoo