Aberration-corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: an Introduction (2nd Edition) - Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland) - Grāmatas - Imperial College Press - 9781783265282 - 2015. gada 18. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: an Introduction (2nd Edition) 2. izdevums

Cena
€ 122,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 20. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.

350 pages

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2015. gada 18. maijs
ISBN13 9781783265282
Izdevēji Imperial College Press
Lapas 432
Izmēri 160 × 238 × 23 mm   ·   802 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland)