Pastāsti draugiem par šo preci:
Aberration-corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: an Introduction (2nd Edition) Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland) 2. izdevums
Cena
€ 122,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 30. okt. - . gada 13. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland) izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Aberration-corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: an Introduction (2nd Edition)
Erni, Rolf (Swiss Federal Laboratories for Materials Science and Technology (Empa), Switzerland)
Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.
350 pages
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2015. gada 18. maijs |
| ISBN13 | 9781783265282 |
| Izdevēji | Imperial College Press |
| Lapas | 432 |
| Izmēri | 160 × 238 × 23 mm · 802 g |
| Valoda | Angļu |