An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Grāmatas - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740249 - 2015. gada 16. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Sarah Fearn
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Cena
€ 44,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 27. okt. - . gada 10. nov.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sarah Fearn izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

66 pages, colour illustrations

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2015. gada 16. oktobris
ISBN13 9781681740249
Izdevēji Morgan & Claypool Publishers
Lapas 66
Izmēri 177 × 256 × 8 mm   ·   181 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Sarah Fearn