An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Grāmatas - Morgan & Claypool Publishers - 9781643279107 - 2015. gada 16. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Cena
€ 132,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 20. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sarah Fearn izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

66 pages

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2015. gada 16. oktobris
ISBN13 9781643279107
Izdevēji Morgan & Claypool Publishers
Lapas 66
Izmēri 150 × 220 × 20 mm   ·   340 g

Vairāk no tā paša izdevēja