Pastāsti draugiem par šo preci:
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics Sarah Fearn
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics
Sarah Fearn
66 pages
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2015. gada 16. oktobris |
| ISBN13 | 9781643279107 |
| Izdevēji | Morgan & Claypool Publishers |
| Lapas | 66 |
| Izmēri | 150 × 220 × 20 mm · 340 g |
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim