Pastāsti draugiem par šo preci:
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Harland G. Tompkins
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Harland G. Tompkins
178 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2015. gada 16. decembris |
| ISBN13 | 9781606507278 |
| Izdevēji | Momentum Press |
| Lapas | 178 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 267 g |
| Valoda | Angļu |