Pastāsti draugiem par šo preci:
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection Fred Stevie
Cena
€ 61,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 14. - 28. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Fred Stevie izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection
Fred Stevie
150 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2015. gada 15. septembris |
| ISBN13 | 9781606505885 |
| Izdevēji | Momentum Press |
| Lapas | 150 |
| Izmēri | 152 × 229 × 16 mm · 390 g |
| Valoda | Angļu |
