Pastāsti draugiem par šo preci:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
Cena
€ 126,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 3. - 17. jūl.
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Pieejams arī kā:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
179 pages, illustrations
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2009. gada 19. novembris |
| ISBN13 | 9781605111285 |
| Izdevēji | Materials Research Society |
| Lapas | 194 |
| Izmēri | 160 × 236 × 18 mm · 432 g |
| Valoda | Angļu |
| Redaktors | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Redaktors | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Redaktors | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Redaktors | Rachmady, Willy |
| Redaktors | Taylor, Bill |
