Microelectronic Test Structures for Cmos Technology - Manjul Bhushan - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489990556 - 2014. gada 1. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Microelectronic Test Structures for Cmos Technology

Cena
€ 129,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 16. - 24. jūl.
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Test structures are becoming more important in the development of CMOS technologies. Covering the basic concepts in test structure design for dedicated test vehicles, the book also examines high-speed characterization techniques for digital CMOS applications.


373 pages, 37 black & white tables, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 1. oktobris
ISBN13 9781489990556
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 373
Izmēri 155 × 235 × 21 mm   ·   566 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Manjul Bhushan

Rādīt visu

Mere med samme udgiver