Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - Grāmatas - Springer London Ltd - 9781447160687 - 2014. gada 22. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 14. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tomi Laurila izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2014. gada 22. februāris
ISBN13 9781447160687
Izdevēji Springer London Ltd
Lapas 218
Izmēri 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja