Pastāsti draugiem par šo preci:
Measuring Success: Testing, Grades, and the Future of College Admissions Jack Buckley
Do you have a profile? Pierakstīties
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Jack Buckley izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Measuring Success: Testing, Grades, and the Future of College Admissions
Jack Buckley
Shaw, Kyle Sweitzer, Roger J. Thompson, Meredith Welch, Rebecca Zwick
344 pages, 49 Graphs
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2018. gada 12. marts |
| ISBN13 | 9781421424965 |
| Izdevēji | Johns Hopkins University Press |
| Lapas | 344 |
| Izmēri | 236 × 164 × 28 mm · 600 g |
| Valoda | Angļu |
| Redaktors | Buckley, Jack (Senior Vice President, American Institutes for Research) |
| Redaktors | Letukas, Lynn (SAS Institute) |
| Redaktors | Wildavsky, Ben (Senior Fellow and Executive Director, The College Board) |