Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics - - Grāmatas - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402086144 - 2008. gada 18. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Microscopy of Semiconducting Materials 2007: Proceedings of the 15th Conference, 2-5 April 2007, Cambridge, UK - Springer Proceedings in Physics 2008 edition

Cena
€ 235,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 20. nov. - . gada 4. dec.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

In view of this scenario, the vital importance of transmission and scanning electron microscopy, together with X-ray and scanning probe approaches can immediately be seen. The conference featured developments in high resolution microscopy and nanoanalysis, including the exploitation of recently introduced aberration-corrected electron microscopes.

512 pages, Illustrations (some col.)

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2008. gada 18. septembris
ISBN13 9781402086144
Izdevēji Springer-Verlag New York Inc.
Lapas 498
Izmēri 155 × 235 × 25 mm   ·   975 g
Redaktors Cullis, A.G.
Redaktors Midgley, P.A.

Vairāk no tā paša izdevēja