Pastāsti draugiem par šo preci:
Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel) 1. izdevums
Cena
€ 128,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 4. - 18. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Reliability Prediction for Microelectronics - Quality and Reliability Engineering Series
Bernstein, Joseph B. (Ariel University, Israel)
384 pages
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2024. gada 27. februāris |
| ISBN13 | 9781394210930 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 400 |
| Izmēri | 201 × 235 × 28 mm · 703 g |
| Valoda | Angļu |
