Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs - Thomas B Getz - Grāmatas - Biblioscholar - 9781288397495 - 2012. gada 4. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Thomas B Getz
Radiation Induced Fault Detection, Diagnosis, and Characterization on FPGAs

Cena
€ 22,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 3. - 17. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Thomas B Getz izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

70 pages, Illustrations, black and white

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2012. gada 4. decembris
ISBN13 9781288397495
Izdevēji Biblioscholar
Lapas 70
Izmēri 189 × 246 × 4 mm   ·   108 g

Skatīt visus Thomas B Getz ( piem., Paperback Book )