Pastāsti draugiem par šo preci:
Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series Kirk A. Gray 1. izdevums
Cena
€ 119,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 8. - 22. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Kirk A. Gray izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Next Generation HALT and HASS: Robust Design of Electronics and Systems - Quality and Reliability Engineering Series
Kirk A. Gray
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
300 pages
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 2016. gada 23. maijs |
| ISBN13 | 9781118700235 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 296 |
| Izmēri | 236 × 161 × 19 mm · 498 g |
| Valoda | Angļu |
