Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices - Paul Van Der Heide - Grāmatas - John Wiley & Sons Inc - 9781118480489 - 2014. gada 15. septembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices 1. izdevums

Cena
€ 140,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 30. okt. - . gada 13. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Paul Van Der Heide izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This book serves as a practical reference for anyone involved in any form of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS). This is presented in a concise yet comprehensive manner to those wanting to know more about the technique in general as opposed to advanced sample specific procedures/applications.


384 pages, illustrations

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2014. gada 15. septembris
ISBN13 9781118480489
Izdevēji John Wiley & Sons Inc
Lapas 384
Izmēri 160 × 243 × 24 mm   ·   657 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja