Pastāsti draugiem par šo preci:
IDDQ Testing for CMOS and VLSI Rochit Rajsuman Unabridged edition
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rochit Rajsuman izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
IDDQ Testing for CMOS and VLSI
Rochit Rajsuman
Provides coverage of IDDQ testing, including discussion of the correlation between physical defects and logical faults, and how IDDQ testing detects these defects. It should be useful as a reference for designers and test engineers.
200 pages, 91ill.
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1995 |
| Oriģinālā izdošanas datums | 1994 |
| ISBN13 | 9780890067260 |
| Izdevēji | Artech House Publishers |
| Lapas | 193 |
| Izmēri | 158 × 230 × 17 mm · 399 g |
| Valoda | Angļu |
Vairāk no Rochit Rajsuman
Rādīt visuVairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Rochit Rajsuman ( piem., Hardcover Book un Paperback Book )