Pastāsti draugiem par šo preci:
IDDQ Testing for CMOS and VLSI Rochit Rajsuman Unabridged edition
Do you have a profile? Pierakstīties
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Rochit Rajsuman izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
IDDQ Testing for CMOS and VLSI
Rochit Rajsuman
Provides coverage of IDDQ testing, including discussion of the correlation between physical defects and logical faults, and how IDDQ testing detects these defects. It should be useful as a reference for designers and test engineers.
200 pages, 91ill.
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1994. gada 30. septembris |
| ISBN13 | 9780890067260 |
| Izdevēji | Artech House Publishers |
| Lapas | 193 |
| Izmēri | 147 × 230 × 25 mm · 301 g |
| Valoda | Angļu |