Microelectronic Reliability Vol. I: Test - Edward B. Hakim - Grāmatas - Artech House Publishers - 9780890062845 - 1989. gada 31. janvāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Microelectronic Reliability Vol. I: Test

Cena
€ 156,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 4. - 18. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Edward B. Hakim izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought


396 pages, 1, black & white illustrations

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1989. gada 31. janvāris
ISBN13 9780890062845
Izdevēji Artech House Publishers
Lapas 396
Izmēri 161 × 238 × 30 mm   ·   771 g
Redaktors Hakim, Edward B.

Vairāk no tā paša izdevēja