Pastāsti draugiem par šo preci:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography D.K. Bowen 1. izdevums
Cena
€ 276,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 23. jūl. - . gada 6. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem D.K. Bowen izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Pieejams arī kā:
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
D.K. Bowen
The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research. It provides the background for applying these techniques.
264 pages, black & white illustrations
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1998. gada 5. februāris |
| ISBN13 | 9780850667585 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Ltd |
| Lapas | 262 |
| Izmēri | 178 × 263 × 20 mm · 656 g |
| Valoda | Angļu |
