Pastāsti draugiem par šo preci:
Speckle Metrology - Optical Science and Engineering Sirohi 1. izdevums
Cena
€ 566,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 14. - 28. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sirohi izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Speckle Metrology - Optical Science and Engineering
Sirohi
Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).
568 pages
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1993. gada 20. maijs |
| ISBN13 | 9780824789329 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Inc |
| Lapas | 572 |
| Izmēri | 150 × 220 × 20 mm · 861 g |
| Valoda | Angļu |
| Sērijas redaktors | Thompson, Brian J. (University of Rochester, New York, USA) |
Vairāk no Sirohi
Rādīt visu
Vairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Sirohi ( piem., Hardcover Book , Book un Paperback Book )