Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE) - Tobin - Grāmatas - SPIE Press - 9780819448460 - 2003. gada 31. jūlijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE)


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tobin izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

222 pages

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2003. gada 31. jūlijs
ISBN13 9780819448460
Izdevēji SPIE Press
Lapas 222
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g   (Svars (aptuveni))

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Tobin