Pastāsti draugiem par šo preci:
Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE) Tobin
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tobin izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Process and Materials Characterization and Diagnostics in IC Manufacturing: II (Proceedings of SPIE)
Tobin
222 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2003. gada 31. jūlijs |
| ISBN13 | 9780819448460 |
| Izdevēji | SPIE Press |
| Lapas | 222 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 493 g (Svars (aptuveni)) |