Electron-Beam X-Ray Euv and Ion-Beam Submicrometer Lithographies For Manufacturing Vi- - Seeger - Grāmatas - SPIE Press - 9780819420992 - 1997. gada 31. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Electron-Beam X-Ray Euv and Ion-Beam Submicrometer Lithographies For Manufacturing Vi-


Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Seeger izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

420 pages

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 1997. gada 31. maijs
ISBN13 9780819420992
Izdevēji SPIE Press
Lapas 420
Izmēri 150 × 220 × 10 mm   ·   697 g   (Svars (aptuveni))

Vairāk no Seeger

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Seeger