Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing - Yervant Zorian - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers - 9780792399209 - 1997. gada 31. maijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Multi-chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Reprinted from Journal of Electronic Testing, 10:1 edition

Cena
€ 120,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 13. - 27. aug.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Yervant Zorian izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This volume of research presents updated test strategies for MCMs. It is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers seeking current test and design-for-testability solutions for their next designs.


167 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1997. gada 31. maijs
ISBN13 9780792399209
Izdevēji Kluwer Academic Publishers
Lapas 167
Izmēri 203 × 254 × 11 mm   ·   535 g
Valoda Angļu  
Redaktors Zorian, Yervant

Vairāk no tā paša izdevēja