Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing - Frans P. M. Beenker - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers - 9780792396581 - 1995. gada 30. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Testability Concepts for Digital Ics: the Macro Test Approach - Frontiers in Electronic Testing 1995 edition

Cena
€ 179,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 20. aug. - . gada 3. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Frans P. M. Beenker izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Considering the testability aspects for digital ICs, this book integrates the testability aspects into the design and manufacturing of ICs and, for each IC design project, gives a precise definition of the boundary conditions, responsibilities, interfaces and communications between persons, and quality targets.


212 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1995. gada 30. novembris
ISBN13 9780792396581
Izdevēji Kluwer Academic Publishers
Lapas 212
Izmēri 170 × 244 × 14 mm   ·   498 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja