Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Sorin Cristoloveanu - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers - 9780792395485 - 1995. gada 30. jūnijs
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Electrical Characterization of Silicon-on-insulator Materials and Devices - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1995 edition

Cena
€ 235,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 30. okt. - . gada 13. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Sorin Cristoloveanu izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Describes a variety of electrical characterization methods, from wafer screening and defect identification to detailed device evaluation. This book provides a comprehensive treatment of different aspects of SOI technologies, including material synthesis, device physics, characterization, circuit applications, and reliability issues.


396 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1995. gada 30. jūnijs
ISBN13 9780792395485
Izdevēji Kluwer Academic Publishers
Lapas 396
Izmēri 156 × 234 × 22 mm   ·   734 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Sorin Cristoloveanu

Vairāk no tā paša izdevēja