Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Carlos H. Diaz - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers - 9780792395058 - 1994. gada 30. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Carlos H. Diaz
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science 1994 edition

Cena
€ 152,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 16. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Carlos H. Diaz izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

Electrical overstress (EOS) and Electrostatic discharge (ESD) pose as one of the threats to integrated circuits (ICs). This book analyzes the EOS/ESD-related failures in I/O protection devices in integrated circuits. This book is intended for VLSI designers, reliability engineers and those working on the development of EOS/ESD analysis tools.

148 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1994. gada 30. novembris
ISBN13 9780792395058
Izdevēji Kluwer Academic Publishers
Lapas 148
Izmēri 156 × 234 × 11 mm   ·   394 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Carlos H. Diaz