Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Kenneth M. Butler - Grāmatas - Springer - 9780792392224 - 1991. gada 31. oktobris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Kenneth M. Butler
Assessing Fault Model and Test Quality - The Springer International Series in Engineering and Computer Science 1992 edition

Cena
€ 103,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 16. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Kenneth M. Butler izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Pieejams arī kā:

For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model.

132 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1991. gada 31. oktobris
ISBN13 9780792392224
Izdevēji Springer
Lapas 132
Izmēri 155 × 235 × 11 mm   ·   399 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Kenneth M. Butler