Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II - L Skuja - Grāmatas - Springer - 9780792366850 - 2000. gada 31. decembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

L Skuja
Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - NATO Science Series II 2000 edition

Cena
€ 202,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 1. - 9. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem L Skuja izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Erice, Italy, April 8-20, 2000

624 pages, 87 black & white illustrations, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2000. gada 31. decembris
ISBN13 9780792366850
Izdevēji Springer
Lapas 624
Izmēri 155 × 235 × 34 mm   ·   1,06 kg
Valoda Angļu  
Redaktors Griscom, David L.
Redaktors Pacchioni, Gianfranco
Redaktors Skuja, Linards

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus L Skuja