Statistical Metrology: 6th International Workshop - Institute of Electrical and Electronics Engineers - Grāmatas - I.E.E.E.Press - 9780780366886 - 2001
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Institute of Electrical and Electronics Engineers
Statistical Metrology: 6th International Workshop

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Institute of Electrical and Electronics Engineers izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The proceedings of the 6th International Workshop on Statistical Metrology, held in 2001. The papers cover: yield ramping methodology; metrology for statistical process control; sensor and measurement technology; spatial and temporal variation analysis methods; robust design; and more.

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2001
ISBN13 9780780366886
Izdevēji I.E.E.E.Press
Lapas 100
Izmēri 203 × 230 × 6 mm   ·   290 g   (Svars (aptuveni))
Valoda Angļu  

Vairāk no Institute of Electrical and Electronics Engineers

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Institute of Electrical and Electronics Engineers