Pastāsti draugiem par šo preci:
VLSI Test Symposium (VTS 2004) Ieee
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ieee izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
VLSI Test Symposium (VTS 2004)
Ieee
The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2004 |
| ISBN13 | 9780769521343 |
| Izdevēji | IEEE Computer Society Press,U.S. |
| Lapas | 550 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 911 g (Svars (aptuveni)) |
| Valoda | Angļu |
Vairāk no tā paša izdevēja
Skatīt visus Ieee ( piem., Paperback Book , Hardcover Book , CD-ROM un Book )