2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed - Ieee - Grāmatas - IEEE Computer Society Press,U.S. - 9780769507019 - 2000. gada 1. novembris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Ieee
2000 European Test Workshop (Etw) IEEE Postproceed

Saņemt e-pastu, kad prece būs pieejama
Do you have a profile? Pierakstīties
Saņemiet paziņojumus par jauniem Ieee izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

The 25 papers cover delay testing and test scheduling, scan and functional testing, system testing, quiescent current testing, analog and mixed-signal testing, core-based testing, fault simulation and field programmable gate array testing, challenges in deep sub-micron testing, high level tests, mem

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2000. gada 1. novembris
ISBN13 9780769507019
Izdevēji IEEE Computer Society Press,U.S.
Lapas 181
Izmēri 216 × 273 × 13 mm   ·   650 g   (Svars (aptuveni))
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Ieee ( piem., Paperback Book , Hardcover Book , CD-ROM un Book )