Pastāsti draugiem par šo preci:
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.) 2. izdevums
Cena
€ 296,49
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 30. okt. - . gada 13. nov.
Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim
Saņemiet paziņojumus par jauniem Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Amerasekera, E. Ajith (Texas Instruments Inc.)
In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed.
358 pages, Illustrations
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1997. gada 11. augusts |
| ISBN13 | 9780471954828 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 360 |
| Izmēri | 156 × 233 × 25 mm · 616 g |
| Valoda | Angļu |
