Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press - Schroder, Dieter K. (Arizona State University) - Grāmatas - John Wiley & Sons Inc - 9780471739067 - 2006. gada 17. februāris
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Schroder, Dieter K. (Arizona State University)
Semiconductor Material and Device Characterization - IEEE Press 3. izdevums

Cena
€ 255,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 11. - 25. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Schroder, Dieter K. (Arizona State University) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.

800 pages, illustrations

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 2006. gada 17. februāris
ISBN13 9780471739067
Izdevēji John Wiley & Sons Inc
Lapas 800
Izmēri 243 × 164 × 51 mm   ·   1,32 kg
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Schroder, Dieter K. (Arizona State University)