Pastāsti draugiem par šo preci:
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)
Cena
€ 263,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 12. - 26. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Bardell, Paul H. (IBM Corporation, Armonk, NY)
Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.
368 pages, Ill.
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1987. gada 6. oktobris |
| ISBN13 | 9780471624639 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 368 |
| Izmēri | 165 × 240 × 23 mm · 662 g |
