Pastāsti draugiem par šo preci:
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.)
Cena
€ 187,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 22. sept. - . gada 6. okt.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.) izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.)
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
248 pages, Illustrations
| Mediji | Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku) |
| Izlaists | 1999. gada 6. aprīlis |
| ISBN13 | 9780471181729 |
| Izdevēji | John Wiley & Sons Inc |
| Lapas | 248 |
| Izmēri | 237 × 163 × 19 mm · 516 g |
| Valoda | Angļu |
