Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
ESD: Failure Mechanisms and Models Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Name: ESD: Failure Mechanisms and Models
Price: 173.99 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Cena

€ 173,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 6. - 20. nov.

Ziemassvētku dāvanas var atgriezt līdz 31. janvārim

Saņemiet paziņojumus par jauniem Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu

Top vieta Trustpilot

Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

ESD: Failure Mechanisms and Models

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Provides a comprehensive analysis of ESD failure mechanisms over a wide range of semiconductor materials, devices, circuits and applications. Sets out methods for eliminating failure mechanisms through workable circuit solutions, including practical examples of failure defects.

408 pages, Illustrations

Mediji	Grāmatas Hardcover Book (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists	2009. gada 24. augusts
ISBN13	9780470511374
Izdevēji	John Wiley & Sons Inc
Lapas	408
Izmēri	253 × 176 × 29 mm · 820 g
Valoda	Angļu

Vairāk no Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA) ESD: Failure Mechanisms and Models Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

ESD: Failure Mechanisms and Models

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Vairāk no Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)

Vairāk no tā paša izdevēja

Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)
ESD: Failure Mechanisms and Models Voldman, Steven H. (IEEE Fellow, Vermont, USA)