Microstructural Characterization of Materials - Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) - Grāmatas - John Wiley & Sons Inc - 9780470027851 - 2008. gada 14. marts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology)
Microstructural Characterization of Materials 2. izdevums

Cena
€ 89,49

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 3. - 17. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) izdevumiem

Mūsu klienti saka:

14 dienu atgriešanas politika saskaņā ar Eiropas patērētāju tiesību aizsardzības likumu
Top vieta Trustpilot
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Microstructural characterization is usually achieved by allowing some form of probe to interact with a carefully prepared specimen. The most commonly used probes are visible light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a sharp, flexible needle.

550 pages, black & white illustrations, colour illustrations, black & white tables, figures

Mediji Grāmatas     Paperback Book   (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru)
Izlaists 2008. gada 14. marts
ISBN13 9780470027851
Izdevēji John Wiley & Sons Inc
Lapas 560
Izmēri 169 × 245 × 30 mm   ·   914 g
Valoda Angļu  

Vairāk no tā paša izdevēja

Skatīt visus Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) ( piem., Paperback Book )