Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective - Eugene R. Hnatek - Grāmatas - Kluwer Academic Publishers Group - 9780442006433 - 1993. gada 31. augusts
Ja vāks un nosaukums nesakrīt, pareizs ir nosaukums

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective 1993 edition

Cena
€ 118,99

Pasūtīts no attālās noliktavas

Paredzamā piegāde . gada 19. aug. - . gada 2. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Eugene R. Hnatek izdevumiem
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam

Not rated yet

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a


180 pages, biography

Mediji Grāmatas     Hardcover Book   (Grāmata ar cieto muguriņu un vāku)
Izlaists 1993. gada 31. augusts
ISBN13 9780442006433
Izdevēji Kluwer Academic Publishers Group
Lapas 180
Izmēri 156 × 234 × 12 mm   ·   476 g
Valoda Angļu  

Vairāk no Eugene R. Hnatek

Rādīt visu

Vairāk no tā paša izdevēja