Pastāsti draugiem par šo preci:
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach Pradeep Lall 1. izdevums
Cena
€ 69,99
Pasūtīts no attālās noliktavas
Paredzamā piegāde . gada 26. aug. - . gada 9. sept.
Saņemiet paziņojumus par jauniem Pradeep Lall izdevumiem
Mūsu klienti saka:
Pievienot savam iMusic vēlmju sarakstam
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Pradeep Lall
This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.
336 pages
| Mediji | Grāmatas Paperback Book (Grāmata ar mīksto vāku un līmēto muguru) |
| Izlaists | 2019. gada 19. jūnijs |
| ISBN13 | 9780367400972 |
| Izdevēji | Taylor & Francis Ltd |
| Lapas | 336 |
| Izmēri | 150 × 220 × 10 mm · 453 g |
| Valoda | Angļu |
